涂層測厚儀MP20E-S

產(chǎn)品型號： MP30E-S

所屬分類：涂層測厚儀

產(chǎn)品時(shí)間：2024-07-23

簡要描述：涂層測厚儀MP20E-S 創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理）技術(shù)提升了測量的精確性
u 測量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用
u FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯

詳情介紹

涂層測厚儀MP20E-S的詳細(xì)介紹

u 創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理）技術(shù)提升了測量的精確性

u 測量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用

u FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯

MINITEST 700優(yōu)點(diǎn)一覽：

? SIDSP使測量不受干擾，測值更加精確

? 可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）

? FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤

? 溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯誤

? 生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高精確度的特征曲線

? 大存儲量，能存儲10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)

? 讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出

? 超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)

? 菜單指引操作，25種語言可選

? 帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC

可下載更新軟件

標(biāo)準(zhǔn)配置：

涂層測厚儀MP20E-S

? 帶塑料手提箱

? MINITEST 720（內(nèi)置探頭）

? 或MINITEST 730（外置探頭）

? 或MINITEST740主機(jī)（不含探頭，有各種探頭可選）

? 校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板

? 操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語

? 2節(jié)AA電池

推薦配件:

F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架

主 機(jī)

涂層測厚儀|德國EPK MiniTest 730 F-15|

型號特性	MINITEST 720	MINITEST 730	MINITEST 740
探頭類型	內(nèi)置探頭	外置探頭	內(nèi)置外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)	10	10	100
存儲數(shù)據(jù)量	zui多10,000個(gè)	zui多10,000個(gè)	zui多100,000個(gè)
統(tǒng)計(jì)值	讀值個(gè)數(shù)，zui小值，zui大值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置）
符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范	ISO，SSPC，瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
校準(zhǔn)模式	出廠設(shè)置校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)，3點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值
極限值監(jiān)控	聲、光報(bào)警提示超過極限
測量單位	um，mm，cm；mils，inch，thou
操作溫度	-10℃-60℃
存放溫度	-20℃-70℃
數(shù)據(jù)接口	IrDA 1.0（紅外接口）
電源	2節(jié)AA電池
標(biāo)準(zhǔn)	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
體積	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	約175g	約210g	約175g（內(nèi)置）230g（外置）

SIDSP探頭

探頭特性	F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5		F2	F5，N2.5，F(xiàn)N5		F15
	F	N	F	F	N	F
測量范圍	0-1.5mm	0-0.7mm	0-2mm	0-5mm	0-2.5mm	0-15mm
使用范圍	小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用		粗糙表面	標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛		厚涂層
測量原理	磁感應(yīng)	電渦流	磁感應(yīng)	磁感應(yīng)	電渦流	磁感應(yīng)
信號處理	探頭內(nèi)部32位信號處理（SIDSP）
精確度	±（1μm+0.75%讀值）		±（1.5μm+0.75%讀值）			±（5μm+0.75%讀值）
重復(fù)性	±（0.5μm+0.5%讀值）		±（0.8μm+0.5%讀值）			±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
zui小曲率半徑（凸）	1.0mm		1.5mm			5mm
zui小曲率半徑（凹，外置探頭）	7.5mm		10mm			25mm
zui小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭）	30mm		30mm			30mm
zui小測量面積	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
zui小基體厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
測量速度	連續(xù)模式每秒20個(gè)讀數(shù),單值模式下每分鐘70個(gè)讀數(shù)

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